thumb|Zdjęcie z mikroskopu elektronowego defektu (a, Mo zamieniony na S) i luki (b, brakujące atomy S) w monowarstwie disiarczku molibdenu. Skala odcinka: 1 nm.
Defekty sieci krystalicznej, defekty struktury krystalicznej – niedoskonałości kryształów polegające na punktowym lub warstwowym zerwaniu regularności ich sieci przestrzennej. Defekty występują praktycznie we wszystkich rzeczywistych kryształach, gdyż wynikają z natury procesu krystalizacji. Najczęściej stosowany jest podział defektów wg charakteru ich wymiaru: punktowe liniowe powierzchniowe warstwowe (objętościowe)
Defekty punktowe wakanse, luki – wolne miejsca w sieci krystalicznej wyjście atomu na powierzchnie kryształu atomy międzywęzłowe opuszczające węzły, na przykład wskutek drgań cieplnych
Defekty liniowe (dyslokacje) krawędziowe – poprzez wprowadzenie dodatkowej płaszczyzny między nieco rozsunięte płaszczyzny sieciowe (miarą dyslokacji jest wektor Burgersa, wyznaczony poprzez kontur Burgersa i prostopadły do linii dyslokacji krawędziowej) śrubowe – powstają w wyniku przesunięcia płaszczyzn atomowych (wektor Burgersa równoległy do linii dyslokacji śrubowej) mieszane – śrubowa i krawędziowa występujące w strukturach rzeczywistych
Defekty powierzchniowe granice ziaren – wąska strefa materiału, w której atomy są ułożone w sposób chaotyczny. Gdy kąt między dwoma sąsiednimi kierunkami krystalograficznymi jest większy od 15°, to granicę nazywa się szerokokątową, a jeśli mniejszy – wąskokątową. granice międzyfazowe koherentne – atomy granicy międzyfazowej są wspólne dla obu faz, półkoherentne – część atomów granicy międzyfazowej jest wspólna dla obu faz, niekoherentne – atomy granicy są w pozycjach znacznie przesuniętych względem pozycji odpowiadających węzłom sieci graniczących faz; w przypadku stopów metali występuje wtedy największe umocnienie metalu, błąd ułożenia – wskutek dyslokacji krawędziowej (istnieje energia błędu ułożenia)
Defekty warstwowe uskoki sieci krystalicznej nakładanie się dwóch sieci na siebie rozwarstwienie.
Doskonałość kryształu Miarą doskonałości kryształu jest jego stopień zdefektowania mierzony liczbą defektów w stosunku do teoretycznej liczby atomów, jaką powinna zawierać sieć. Zazwyczaj zdefektowanie sieci rośnie wraz ze wzrostem temperatury. Defekty sieci krystalicznej odpowiadają za różne właściwości kryształów, między innymi półprzewodnictwo typu n lub p, barwę, luminescencję.
Przypisy
Linki zewnętrzne